使用硅烷偶联剂 KH - 5 5 0对纳米二氧化硅( N a n o - S i O2) 进行表面有机改性。使用Z e t a s i z e r3 0 0 0电位
仪, 系统分析 KH - 5 5 0的用量、 改性时间以及改性温度等因素对 N a n o - S i O2 表面ζ电位的影响, 得到不同改性条件对
N a n o - S i O2 表面ζ电位的作用规律, 从而建立改性 N a n o - S i O2 表面ζ电位与有机改性条件的关系。将改性前后的
N a n o - S i O2 与石油磺酸盐 - P S复配, 得到改性二氧化硅/表面活性剂( KH 5 5 0 - g - N a n o - S i O2 - P S) 复合体系。采用界面
张力仪( TX - 5 0 0 c ) , 系统研究该复合体系降低油/水界面张力能力, 并利用T u r b i s c a nL a b型乳状液稳定性分析仪, 系
统研究油/水乳状液的稳定性。结果表明, 当石油磺酸盐表面活性剂质量分数为0. 5%时, 该体系油/水界面张力降
低至2. 3 0×1 0-2 mN /m, 然而当KH 5 5 0质量分数为5%时, KH 5 5 0 - g - N a n o - S i O2 - P S体系能使油/水界面张力降低至
5. 4 2×1 0-3 mN /m, 达到超低界面张力, 且乳化液稳定性最大, 此时 KH 5 5 0 - g - N a n o - S i O2 - P S体系表面ζ 电位为
-5 0. 1mV, 通过表面ζ电位的变化分析了油水界面张力变化及乳状液稳定机理。